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对于低频（150kHz～80MHz/230MHz）的射频信号的波长较长，EUT的互连电缆比EUT本身更加容易成为天线而接收电磁场，因此射频抗扰度试验的低频部分采用传导测量方式。通过向被试设备的电缆注入共模电流，可以模拟Ｅ场和H场对被试设备的影响。传导抗扰度测试系统（CS）基于IEC 61000-4-6/GB T17626.6开发定制。
传导抗扰度测试系统（CS)遵循主要标准：
IEC 61000-4-6/GB T17626.6：RF induction conducted disturbances immunity testest
传导抗扰度测试系统（CS)应用特点：
对于低频（150kHz～80MHz/230MHz）的射频信号的波长较长，EUT的互连电缆比EUT本身更加容易成为天线而接收电磁场，因此射频抗扰度试验的低频部分采用传导测量方式。通过向被试设备的电缆注入共模电流，可以模拟Ｅ场和H场对被试设备的影响。针对被试设备不同类型的端口，可选择4种注入方式：
CDN直接注入：适用于电源线（M型CDN）及常用电缆
电磁钳注入：如果无法适用CDN，可以使用电磁钳。
电流钳注入：无法适用CDN，而且被测电缆的长度过短时，就需要使用电流钳。
直接注入法：通过100欧姆电阻直径注入到同轴电缆的屏蔽层上。
传导抗扰度测试系统（CS)测试配置：
主要测试设备：信号源、功率放大器、定向耦合器、功率计、CDN网络、EMC测试软件等
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