/recommend product
/Latest Products
微波等离子清洗是一种利用微波辐射和等离子体技术进行清洗的方法。在微波等离子清洗过程中，通过微波辐射产生的高频电磁场在气体中产生等离子体，形成高温、高压、高能量的等离子体气体环境。在等离子体环境中，离子
光学轮廓仪是以白光干涉技术原理，对各种精密器件表面进行纳米级测量的仪器，通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。产品特点：
多波段椭偏仪是一种用于检测薄膜厚度，光学常数和材料微观结构的光学测量仪器。由于其高测量精度，它适用于超薄膜，不接触样品，不会损坏样品而不需要真空，使多波段椭偏仪成为一种吸引力较强的测量仪器。多波段椭偏
自动化厚度测量仪采用脉冲反射式测量原理，适合各种材料厚度的测量。仪器通过探头发出超声波以恒定速度在材料内部进行传播，并在其底面得到反射波后进行接收。该仪器可对各种板材和加工零件作精确测量，广泛应用于石
薄膜电阻测试仪配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑
薄膜应力测试仪是一种用于测量薄膜材料内部应力的仪器。这种应力对于薄膜的性能和可靠性具有重要影响，因此准确测量薄膜应力是非常重要的。然而，薄膜应力测试仪的结果可能会受到多种因素的影响。以下是一些可能影响
在精密测量领域，动态激光干涉仪以其高精度、高分辨率和高稳定性著称，广泛应用于机床校准、半导体制造、光学元件检测等多个行业。本文将简要介绍动态激光干涉仪的使用方法，帮助用户更好地掌握这一先进测量工具的操
在现代科技快速发展的背景下，直接键合设备作为一种高效、便捷的工具，广泛应用于各类电子设备的维修和调试过程中。本文将深入探讨如何掌握直接键合设备的使用技巧，以及其在提高工作效率和保障设备质量方面的重要性
在现代工业和科技领域，精密设备的稳定运行对于产品质量和生产效率至关重要。然而，振动作为影响设备精度的主要因素之一，常常给生产带来诸多困扰。为此，主动隔振台应运而生，以其特殊的结构和先进的工作原理，成为
在光学、材料科学及制造业中，光学膜厚仪作为测量薄膜厚度的关键工具，其测量精度直接影响到产品的质量和生产效率。然而，任何测量仪器都不可避免地存在一定的误差，光学膜厚仪也不例外。本文将围绕该仪器的误差进行
白光干涉仪是一种利用白光干涉原理进行高精度测量的仪器，广泛应用于光学元件、半导体材料、金属材料等的微观形貌和膜层厚度测量。为了确保白光干涉仪的测量准确性和设备稳定性，以下是一些使用注意事项：1.环境条
掩模对准曝光机，作为半导体制造领域的核心装备，其工作原理精妙而复杂，如同一位精细的绘图师，在微小的硅片上绘制出复杂的电路图案。本文将深入解析该设备的工作原理，展现其在芯片制造中的关键作用。一、工作原理
红外激光测厚仪是一种高精度、非接触的测量工具，广泛应用于工业生产和材料测试中。它通过发射激光束并测量激光反射时间来确定物体的厚度。本文将详细探讨如何优化红外激光测厚仪的使用方法，以提高测量的准确性和可
FR-pRo可由用户按需选择装配模块，核心部件包括光源，光谱仪（适用于200nm-2500nm内的任何光谱系统）和控制单元，电子通讯模块等。此外，还有各种各种配件，比如：*FilmThicknessKit用于表征涂层特性的薄膜厚度工具*FR-Mic用于微小区域的测量*Manual...
ThetaMetrisisFR-Scanner是一款紧凑的台式测量工具，全自动测绘涂层的厚度，基底适用于晶圆、掩膜版及其它材料。FR-Scanner可以快速准确地测量薄膜特性，比如厚度、折射系数、均匀性、色度等，真空吸盘可应用于任何直径或其它形状的样品。
FR-Scanner-AIO-Mic-XY200是一款集成了显微镜的自动薄膜厚度测绘系统，用于全自动图案化晶圆上的单层和多层涂层厚度测量。电动X-Y载物台提供适用尺寸200mmx200mm的行程，可在200-1700nm光谱范围内提供各种光学配置。
FR-SCANNER操作软件ThetaMetrisisFR-Scanner是一款紧凑的台式测量工具，全自动测绘涂层的厚度，基底适用于晶圆、掩膜版及其它材料。FR-Scanner可以快速准确地测量薄膜特性，比如厚度、折射系数、均匀性、色度等，真空吸盘可应用于任何直径或其它形状的样品...
FR-pRo可由用户按需选择装配模块，核心部件包括光源，光谱仪（适用于200nm-2500nm内的任何光谱系统）和控制单元，电子通讯模块等。此外，还有各种各种配件，比如：*FilmThicknessKit用于表征涂层特性的薄膜厚度工具*FR-Mic用于微小区域的测量*Manual...
2
