产品展示
半导体X-RAY膜厚测试仪
【简单介绍】
【详细说明】
半导体X-RAY膜厚测试仪利用萤光X射线得到物质中的元素信息(组成和镀层厚度)的萤光X射线法原理。和萤光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息(构造)。而透过X射线多用于拍摄医学透视照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类。
X射线的能量穿过金属镀层的同时,金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理,我们设计出:膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪,又称金属涂镀层厚度测量仪,其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪,也是薄膜表层金属元素分析仪,因响应环保工艺准则,故目前市场上zui普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。
半导体X-RAY膜厚测试仪软件包括 :
(1)X射线部件的操作
(2)控制整个测量过程
(3)*的基本参数法可进行无标准片测量
(4)用受认证的标准片进行校准,可以完成有标准片调校的测量
(5)可以同时分析材料成分和测量计算镀层厚度
(6)按照元素波峰进行自动元素识别
(7)测量值可以以karat, wt% 或 ‰表示
(8)客户自定义报表工具
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