输入框测试2 | 55mm | 输入框测试2 有2级 | 输入框测试2 有2级2:888kg |
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一、日立荧光分布成像系统(EEM View)简介
作为荧光分光光度计的配件系统,这是将相机与荧光分光光度计的结合,融合了智能算法的*技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。
新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用*的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。
二、 日立荧光分布成像系统(EEM View)特点:
在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄样品图像,(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm),同时利用*的光谱算法,分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)
荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)
样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!
丰富的样品支架
支持精确测量的校正工具
荧光分布成像系统是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。
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