详细摘要: RF射频芯片HAST测试HAST高加速老化寿命,CAF测试也叫离子迁移测试,CAF测试是一种用于评估材料中离子迁移性质的实验方法。该测试通常用于检测包装材料、食...
产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-14 在线留言成都中冷低温科技有限公司
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产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-14 在线留言详细摘要: HAST绝缘电阻劣化 (离子迁移CAF),绝缘电阻劣化(离子迁移)测试系统搭配HAST高加速老化试验箱,可高精度连续监测,快捷评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘...
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主营产品:超低温制冷机、高低温冲击气流仪(ThermoTST热流仪)、接触式高低温冲击机 (ATC/TCU)、三温液冷机 (Chiller)、高加速寿命试验箱(BHAST/UHAST)、晶圆卡盘(ThermoChuck)、快速温变箱、温度冲击箱
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