【简单介绍】
【详细说明】
膜厚测试仪硬件配置(均为美国标准配):
* 射 线 管:微聚焦型W靶鈹窗X射线管功率50W
* 激发电源:仪器可调节式高压电源30-40-50KV高压激发电源
* 检 测 器:数字半导体接收器
* 滤 波 器:镍(Ni)滤波;铝(AI)滤波;和空气滤波三种
* 准 直 器:4个(自动司服转化功能)
圆 形4个: 0.1φ, 0.2φmm,0.3φmm,1.5φmm
* 摄像系统:彩色CCD摄像系统。
* 整体外观尺寸:长*宽450*450mm 整体重量:32KG
样品的测量台:XY轴可移动样品台
样品室,室内尺寸:长*宽*高=360*380*240
* 搭载自动制作生成图文测量检验报告书
* 戴尔E390商务电脑及19寸液晶显示器(戴尔原装电脑具体配置随机性)
智能英特尔 奔腾 G630处理器;OptiPLex(TM) 390MT机箱
1GB(1x1GB)Non-ECC DDR3 1333MHZ SDRAM Memory
500GB 7200 RPM 3.5 SATA Hard Drive,DeLL IN1930 19英寸显示器
* 工具配置箱一件,样品环二个,样品膜一卷(可使用数年)
膜厚测试仪是一台款现代化桌上X射线光谱仪(EDXRF)。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金,铂和银,铑,硬币以及所有的首饰合金和镀层。BA100测量准确,使用安全简便,坚固耐用节省维护费用。
而且,它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器,配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。优秀的人体学设计,简单的操作即测量结果的快速计算是对BA 100的描述。无论您想测量未知样品还是测定未知材料,BA100配合优异的运行软件都是您正确的选择。
相关产品
- X-ray膜厚测试仪_深圳金东霖
- X-ray膜厚仪_深圳金东霖
- X-ray膜厚仪_金东霖科技
- X-ray膜厚测试仪_金东霖科技
- X-ray膜厚测试仪_金东霖
- X-ray膜厚测试仪
- 台式半导体膜厚测试仪
- 膜厚测试仪 bowman博曼
- 膜厚测试仪 博曼(BA100)
- 美国台式膜厚仪
- 美国台式膜厚测试仪
- 台式镀金膜厚测试仪
- 博曼x荧光膜厚测试仪
- 博曼x荧光膜厚仪
- bowman x射线膜厚测试仪
- bowman台式膜厚测试仪
- bowman台式膜厚仪
- 台式pcb板膜厚测试仪
- 美国台式pcb板膜厚仪
- 线路板膜厚测试仪
- 线路板膜厚仪
- 博曼镀铜镍金膜厚测试仪
- 博曼镀铜镍金膜厚仪
- bowman镀金膜厚测试仪
- bowman镀金膜厚仪
- 美国半导体膜厚测试仪
- 镀铜镍金pcb板膜厚测试仪
- pcb板镀铜镍金膜厚仪
- 镀金线路板膜厚测试仪
- 线路板镀金膜厚仪
- 半导体X-RAY膜厚测试仪
- X-RAY半导体膜厚仪
- 博曼—膜厚测试仪
- bowman—膜厚测试仪
- BA 100_膜厚测试仪
- BA 100膜厚测试仪
- 膜厚测试仪——BA 100
- 电镀膜厚测试仪
- 膜厚测试仪
- 二手膜厚测试仪