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X-ray膜厚测试仪

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深圳市金东霖科技有限公司
2018-01-29 08:26:59
深圳市
美国
479

【简单介绍】

X-ray膜厚测试仪是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量.
可靠地测量Pb, Hg, Cd, Br及Cr元素。在塑料中可达到的测量下限Pb为2ppm，对Cd为10ppm。
RoHS / WEEE对Pb的限制为1000 ppm以及对Cd为100 ppm，仪器能可靠地予以验证。
塑料样品可以不考虑其厚度而进行准确分析。

【详细说明】

X-ray膜厚测试仪仪器性能：
1. 以更有效的过程控制来提高生产力。
2. 有助电镀过程中的生产成本zui小化、产量zui大化。
3. 快速无损地分析珠宝及其他合金。
4. 快速分析多达4层镀层。
5. 经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益。
6. 操作简单，只需要简单的培训。
7. 全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。
8. 超大开放式的样品台。


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检测仪，测厚仪，膜厚仪，无损检测

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