膜厚测试仪 bowman博曼

膜厚测试仪 bowman博曼性能特点
+ 高效超薄窗X光管，指标达到*水平。 
+ 的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好。
+ SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。 
+ 产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上。 
+ 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好。 
+ 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围。 
+ 自动稳谱装置保证了仪器工作的*性。
+ 高信噪比的电子线路单元。 
+ 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐。 
+ 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。
+ 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制。
+ 内置高清晰摄像头。 
+ 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然。

膜厚测试仪 bowman博曼是一台款现代化桌上X射线光谱仪(EDXRF)。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金，铂和银，铑，硬币以及所有的首饰合金和镀层。BA100测量准确，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用。
而且，它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器，配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。优秀的人体学设计，简单的操作即测量结果的快速计算是对BA 100的描述。无论您想测量未知样品还是测定未知材料，BA100配合优异的运行软件都是您正确的选择。