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美国台式膜厚仪

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  • 深圳市金东霖科技有限公司
  • 2017-02-28 17:46:48
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【简单介绍】

美国台式膜厚仪符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器,配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。

【详细说明】

 

美国台式膜厚仪* 采用x射线的荧光原理方法,这是适合测量非铁性镀层在钢材或非铁性金属底材上的厚度,甚至镍层在钢材上的厚度也可以测量。
* 对在铁上镀锌层、电路板的铜箔及孔铜壁的厚度测理也十分理想。而且可以在同一时间分别测量两层镀层厚度。
* 用来测量钢板上镀锌层及油漆的厚度,或是在铝上油漆层的厚度,涂镀可两用,是一款非常不错的仪器。
* zui显著的功能是可以穿透绿油测下面的铜厚,这是其他品牌仪器无法做到的。
* 适合于使用在不需要全部测量数据存储,评估和输出,但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同的准直器以适应各种应用情况.

美国台式膜厚仪是一台款现代化桌上X射线光谱仪(EDXRF)。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金,铂和银,铑,硬币以及所有的首饰合金和镀层。BA100测量准确,使用安全简便,坚固耐用节省维护费用。
而且,它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器,配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。优秀的人体学设计,简单的操作即测量结果的快速计算是对BA 100的描述。无论您想测量未知样品还是测定未知材料,BA100配合优异的运行软件都是您正确的选择。

 

    
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