【简单介绍】
【详细说明】
博曼x荧光膜厚测试仪* 技术指标型号:元素分析范围从铝(AL)到铀(U)。
* 一次可同时分析zui多24个元素或五层以上镀层。
* 元素分析检出限可达2ppm,分析含量一般为2ppm到99.9%。镀层厚度zui薄可达0.005um,一般在20um内(不同材料有所不同)。
* 小孔准直器(zui小直径0.1mm),测试光斑在0.2mm以内。
* 高精度移动平台(定位精度小于0.005mm)。
* 任意多个可选择的分析和识别模型。
* 尺寸:576 x 495x545 mm
* 重量:90 kg
* 标准配置开放式样品腔。
* 精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
* 双激光定位装置。
* 铅玻璃屏蔽罩。
* Si-Pin探测器。
* 信号检测电子电路。
* 高低压电源。
* X光管。
* 高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机。
博曼x荧光膜厚测试仪是一台款现代化桌上X射线光谱仪(EDXRF)。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金,铂和银,铑,硬币以及所有的首饰合金和镀层。BA100测量准确,使用安全简便,坚固耐用节省维护费用。
而且,它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器,配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。优秀的人体学设计,简单的操作即测量结果的快速计算是对BA 100的描述。无论您想测量未知样品还是测定未知材料,BA100配合优异的运行软件都是您正确的选择。
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