产品展示
【简单介绍】
【详细说明】
线路板膜厚仪 1.用*的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大。
2.可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上。
3.拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。
4.能够检测各种大小的样品,满足镀层厚度测量和材料分析。
5.新型号设计,快速分析(几秒)1-4层镀层厚度。
6.多款规格,例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台。
7.满足所有样品类型,开槽式样品舱可检测大面积样品,例如印制线路板等。
8.符合ISO3487和ASTM B568检测方法
线路板膜厚仪 是一台款现代化桌上X射线光谱仪(EDXRF)。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金,铂和银,铑,硬币以及所有的首饰合金和镀层。BA100测量准确,使用安全简便,坚固耐用节省维护费用。
而且,它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器,配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。优秀的人体学设计,简单的操作即测量结果的快速计算是对BA 100的描述。无论您想测量未知样品还是测定未知材料,BA100配合优异的运行软件都是您正确的选择。
相关产品
- X-ray膜厚测试仪_深圳金东霖
- X-ray膜厚仪_深圳金东霖
- X-ray膜厚仪_金东霖科技
- X-ray膜厚测试仪_金东霖科技
- X-ray膜厚测试仪_金东霖
- X-ray膜厚测试仪
- 台式半导体膜厚测试仪
- 膜厚测试仪 bowman博曼
- 膜厚测试仪 博曼(BA100)
- 美国台式膜厚仪
- 美国台式膜厚测试仪
- 台式镀金膜厚测试仪
- 博曼x荧光膜厚测试仪
- 博曼x荧光膜厚仪
- bowman x射线膜厚测试仪
- bowman台式膜厚测试仪
- bowman台式膜厚仪
- 台式pcb板膜厚测试仪
- 美国台式pcb板膜厚仪
- 线路板膜厚测试仪
- 线路板膜厚仪
- 博曼镀铜镍金膜厚测试仪
- 博曼镀铜镍金膜厚仪
- bowman镀金膜厚测试仪
- bowman镀金膜厚仪
- 美国半导体膜厚测试仪
- 镀铜镍金pcb板膜厚测试仪
- pcb板镀铜镍金膜厚仪
- 镀金线路板膜厚测试仪
- 线路板镀金膜厚仪
- 半导体X-RAY膜厚测试仪
- X-RAY半导体膜厚仪
- 博曼—膜厚测试仪
- bowman—膜厚测试仪
- BA 100_膜厚测试仪
- BA 100膜厚测试仪
- 膜厚测试仪——BA 100
- 电镀膜厚测试仪
- 膜厚测试仪
- 二手膜厚测试仪