X-ray膜厚测试仪_金东霖

X-ray膜厚测试仪_金东霖是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量.
可靠地测量Pb, Hg, Cd, Br及Cr元素。在塑料中可达到的测量下限Pb为2ppm，对Cd为10ppm。
RoHS / WEEE对Pb的限制为1000 ppm以及对Cd为100 ppm，仪器能可靠地予以验证。
塑料样品可以不考虑其厚度而进行准确分析。

X-ray膜厚测试仪_金东霖仪器特点有：
★ zui多24种镀层（使用WinFTM? V.6软件）。
★ 分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。
★ 分析电镀溶液中的金属离子浓度。
★ 贵金属检测，如Au karat评价。                                         
★ 材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测 。                                        
★ 液体样品分析，如镀液中的金属元素含量 。
★ 多达4个样品的光谱同时显示和比较。
★ 元素光谱定性分析，精度高、稳定性好。
★ 强大的数据统计、处理功能。
★ 测量范围宽，NIST认证的标准片，服务及支持。
★ 附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。