BA 100_膜厚测试仪

BA 100_膜厚测试仪1.准值仪4种孔径内藏式
仪器测量直径zui小可达到150微米。可供选择的准直器直径
有0.1、0.2、0.3和1.5毫米。
2.自动测定测量台
利用滑鼠来调整测量位置，非常敏捷快速。自动聚焦，或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
3.优越的机能
配有超大功率X射线光管和高灵敏度探测器，能够满足复杂样品和微小测试面积的检测需求。
4.测定部显示尽像的表示
X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率更机能来实现尽面上测出物放大。
5.在膜厚测定中的能谱表示
由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示，操作简单。
提长资料处理的速度
6.充实测量报告的作成机能
采用MS-WINDOW软件，测定画的撷取，非常简便，可充衬测量报告的制作机能。可同时间隔处理多项工作，机器在测量中亦可处理其他工作：包括如测量报告的制作。 
7.测定物膜厚附著分布表示
以三次元图案来表示测定物膜厚附著状态的分布，作判定时一目了然。
自己诊断机能及X线管保食机能
自己诊断机能，迅速的对策来排除机器的因扰。附有X线管的使用时间及耐久时间表示机能，可加强保食的安全性。

BA 100_膜厚测试仪是一台款现代化桌上X射线光谱仪(EDXRF)。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金，铂和银，铑，硬币以及所有的首饰合金和镀层。BA100测量准确，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用。
而且，它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器，配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。优秀的人体学设计，简单的操作即测量结果的快速计算是对BA 100的描述。无论您想测量未知样品还是测定未知材料，BA100配合优异的运行软件都是您正确的选择。